Исследовательский потенациал молодых ученых: взгляд в будущее - 2021

255 УДК 669.537.7:621.357.5 Е. В. Цой, А. Н. Чуканов, М. Ю. Моденов, В. А. Терёшин tsoyev@tsput.ru ; alexchukanov@yandex.ru Тульский государственный педагогический университет им. Л. Н. Толстого РАЗВИТИЕ МЕТОДОВ СТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА И МАТЕМАТИЧЕСКОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ СОСТОЯНИЯ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ Аннотация. В данной статье были представлены основные направления методов экс- периментального структурного анализа и математического моделирования состояния ме- таллических материалов в ходе эксплуатации, развиваемые в ТГПУ им. Л. Н. Толстого. Ключевые слова: микроструктурный анализ, мультиволновой автоматизирован- ный оптический комплекс, субструктурный анализ, механическая спектроскопия, ав- томатизированный комплекс, математическое моделирование НДС. Введение. Разработка и внедрение в производство современных инноваци- онных материалов и технологий прямо связаны с предварительными исследова- ниями их внутреннего строения, определяющего комплекс свойств и их стабиль- ность при эксплуатации. С помощью анализа микро- и субструктуры материалов изучают природу и механизмы структурных и фазовых превращений на самых глубинных уровнях. Выявляют и используют явления, контролирующие свой- ства сталей и сплавов в ходе различных видов воздействия. Аспиранты кафедры технологии и сервиса (ТиС) ТГПУ им. Л. Н. Толстого под руководством научных сотрудников развивают перспективные направления структурного анализа материалов (оптический микроструктурный и акустиче- ский субструктурный), а также методы моделирования структуры [1, 2]. Оптический микроструктурный анализ чрезвычайно актуален в мате- риаловедении, медицине, биоинженерии при изучении рельефа и объёма объ- ектов в отражённом и проходящем излучении. Однако современные оптиче- ские комплексы микроструктурного анализа имеют ряд недостатков. Их осветительные системы не позволяют регулировать длину волн излучения, а разрешающая способность базовых оптических систем зачастую недоста- точна для решения задач разработки новых материалов. Полезное увеличение микроскопа ограничено разрешающей способностью глаза при наличии абберации. Отсутствие современных микропроцессорных систем управления позиционированием исследуемого поля зрения и приводом фокусировки микро- скопа замедляет фиксацию микроструктуры и анализ его изображения.